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工业芯片可靠性设计

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  • 出版社:西安电子科大
  • ISBN:9787560667102
  • 作者:编者:赵东艳|责编:杨薇//李惠萍
  • 页数:367
  • 出版日期:2023-03-01
  • 印刷日期:2023-03-01
  • 包装:平装
  • 开本:16开
  • 版次:1
  • 印次:1
  • 字数:558千字